HOME > 프레스센터 > 참가업체 뉴스

참가업체 뉴스

마이크로엡실론코리아 주식회사, 반짝이는 표면 및 경면체용 3D 측정검사시스템 reflectCONTROL
2024-08-30 조회수 : 28

 

reflectCONTROL은 반사율이 높고 투명한 표면의 결함 감지를 위한 혁신적인 솔루션을 제공합니다. 위상측정 편향 계측방식(phase-measuring deflectometry)을 사용해 대상체 전체 표면을 측정 할 수 있습니다. 많은 인력과 작업 시간이 소요되는 기존의 육안 검사와 달리, reflectCONTROL은 표면 품질을 상세히 분석할 수 있는 정밀한 측정 결과를 제공합니다. 다양한 평가와 매개변수를 설정할 수 있는 강력한 소프트웨어 패키지를 제공해 표면 검사의 효율성과 정확성을 크게 향상시킵니다.

reflectCONTROL은 반짝이는 물체의 표면 검사용으로 개발되었습니다. 컨트롤러가 내장된 센서로 특정 위치에 고정해 측정하거나 기계 장치와 통합해 사용할 수 있습니다. 센서가 측정 대상에 줄무늬 패턴을 조사하고 센서 카메라가 표면에 반사되는 패턴 이미지를 취득하는데, 표면의 편차로 인해 이 줄무늬 패턴에서 편차가 발생하고 이 편차가 소프트웨어에 의해 분석되어 곡률 이미지로 표시됩니다. GigE Vision을 사용하면 추가 분석에 필요한 표면 이미지 데이터를 광범위 이미지 처리에 필요한 소프트웨어 패키지로 따로 전송도 가능합니다.

완전 자동화된 표면 검사 작업 또는 대형 면적을 가진 부품의 결함 감지를 위해 로봇 기반의 자동화 시스템을 구축할 수 있습니다. 센서를 로봇에 적용해 표면 검사가 필요한 영역으로 이동시킬 수 있으며, 종합 소프트웨어 패키지는 측정 툴 구성, 검사 평가, 지정된 영역을 CAD 모델과 중첩해 감지되는 결함 표시 등 필요한 모든 도구를 포함하고 있습니다.

함께 제공되는 3DInspect는 센서의 매개변수 설정 및 산업용 측정 작업에 특화된 강력한 소프트웨어입니다. 이 소프트웨어를 사용해 데이터 취득이 가능하며, 획득된 3D 데이터를 시각화하여 추가적인 활용을 위해 다양한 파일 형식(ASCII, CSV, STL, PLY)으로 내보낼 수 있습니다. 레퍼런스 대상체(평면 거울)를 이용한 측정 보정 작업 기능을 포함하고 있으며, 취득된 데이터를 사전 처리(예: 평면성 맞춤)하고 데이터를 PV 및 RMS 값으로 직접 출력도 가능합니다. 또한, 모든 GenICam 매개변수에 액세스가 가능해 소프트웨어와의 통합이 용이함으로 장비제조사가 사용하기에 유용합니다. 인라인 공정 경우 측정 시간을 표시하여 사이클 시간 등이 확인 가능합니다.

reflectCONTROL은 통합이 용이한 SDK를 무상 제공합니다. SDK는 GigE Vision 및 GenICam 산업 표준을 기반으로 하였으며, 네트워크 구성 및 센서 연결, 포괄적인 센서 제어, 측정 데이터 전송 제어(3D 데이터, 비디오 이미지 등), 사용자 정의 매개변수 세트 관리, C++ 예제 프로그램 및 문서화 등이 가능합니다. GenICam 클라이언트가 있는 경우 SDK 없이 GigE Vision을 통해 센서에 직접 액세스도 가능합니다.